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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等
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JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪
独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的(日本专利:第4595778号)。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定zei合适的打开角度,将电子束压缩到zei细。当然是不需要更换物镜
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电子探针EPMA-1720系列
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日本JEOL 电子探针显微分析仪JXA-8230
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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
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JXA-8230 电子探针显微分析仪
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日本JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-8530F Plus
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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化EPMA。
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